साइट लक्ष्य और सीमा

इलेक्ट्रॉनिक्स AOI और AI दोष निरीक्षण केवल एक डेमो नहीं है। यह वास्तविक उत्पाद, दोष मानक, उत्पादन गति और गुणवत्ता जिम्मेदारी को एक इंजीनियरिंग लूप में जोड़ता है।

इमेजिंग, एल्गोरिदम और उपकरण

इमेजिंग चेन में कैमरा, लेंस, लाइट, ट्रिगर, फिक्स्चर, एज कंप्यूटिंग और सॉफ्टवेयर रेसिपी शामिल हैं। दोष स्थिर रूप से दिखे तभी एल्गोरिदम भरोसेमंद होता है।

लाइन इंटीग्रेशन और स्थानीय डेटा

सिस्टम को PLC सिग्नल, MES आदेश, बैच, रेसिपी, मॉडल संस्करण, मूल चित्र, परिणाम चित्र और reदृश्य क्षेत्र रिकॉर्ड स्थानीय रूप से रखने चाहिए। नेटवर्क न हो तब भी जांच और प्रमाण जारी रहते हैं।

इलेक्ट्रॉनिक्स AOI और AI दोष निरीक्षण इमेजिंग, एल्गोरिदम और उपकरण 1
इमेजिंग, एल्गोरिदम और उपकरणसिस्टम को PLC सिग्नल, MES आदेश, बैच, रेसिपी, मॉडल संस्करण, मूल चित्र, परिणाम चित्र और reदृश्य क्षेत्र रिकॉर्ड स्थानीय रूप से रखने चाहिए। नेटवर्क न हो तब भी जांच और प्रमाण जारी रहते हैं।

सैंपल समीक्षा और गलत निर्णय

सैंपल लाइब्रेरी में अच्छे भाग, सामान्य दोष, सीमा सैंपल और गलती से अस्वीकृति होने वाले अच्छे भाग होने चाहिए। हर reदृश्य क्षेत्र में कारण, जिम्मेदार व्यक्ति, संस्करण और वापसी दर्ज होना चाहिए।

स्वीकृति, रखरखाव और दोहराव

स्वीकृति में लगातार चलने का समय, उत्पादन ताल मार्जिन, गलत अस्वीकृति, छूटा दोष जोखिम, पुनर्प्राप्ति, अनुमति, ट्रेसबिलिटी फ़ील्ड और रखरखाव चक्र शामिल होने चाहिए।

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इमेजिंग, एल्गोरिदम और उपकरणसिस्टम को PLC सिग्नल, MES आदेश, बैच, रेसिपी, मॉडल संस्करण, मूल चित्र, परिणाम चित्र और reदृश्य क्षेत्र रिकॉर्ड स्थानीय रूप से रखने चाहिए। नेटवर्क न हो तब भी जांच और प्रमाण जारी रहते हैं।